Wenn das Äußerste zählt: Röntgen-Photoelektronen-Spektroskopie

Man soll ein Buch nicht nach seinem Umschlag beurteilen. In den Materialwissenschaften ist aber gerade die Oberfläche entscheidend für viele Eigenschaften. Für deren Analyse eignet sich die Röntgen-Photoelektronen-Spektroskopie (XPS), die die obersten zehn Nanometer eines Materials erfasst. Wo sich diese spezielle Technik lohnt, zeigen vier Fallbeispiele.