vimarsana.com


HELIX™ Spectral Analysis System accurately measures the highest-performance optical filters.
The HELIX Spectral Analysis System has redefined measurement capabilities of high performance thin-film optical filters. HELIX is an instrument designed and developed by Alluxa Engineering staff to address the limitations of most commercially available spectrophotometers. The system’s capabilities are four-fold: it is able to track filter edges to OD7 (-70 dB), evaluate blocking to OD9 (-90 dB), resolve edges as steep as 0.4% relative to edge wavelength from 90% transmission to OD7, and resolve passbands that are as narrow as 0.1 nm at full width half maximum (FWHM).
Figure 1. Transmission spectra of a high-cavity-count ultra-narrow bandpass filter measured with the HELIX System and compared to theory. The HELIX System is able to measure blocking up to a level of OD9 (-90 dB).

Related Keywords

Amber Czajkowski ,Niels Cooper ,Peter Egerton ,Mike Scobey ,Alannah Johansen ,Alluxa Inc , ,Rance Fortenberry ,Spectral Analysis System ,Analysis System ,Alluxa Engineering ,Measurement Techniques ,Rear Beam Attenuation ,Ultra Narrow Bandpass ,Thin Film Interference Filters ,White Paper ,Flat Top ,Alluxa White Paper ,Alluxa ,Optical Filters ,Optical Filter ,Ultra Narrow ,Bandpass Optical Filters ,Ultra Narrow Bandpass Optical Filters ,நியீல்ஸ் கூப்பர் ,பீட்டர் எகர்‌டந் ,மைக் ஸ்கோபி ,அலன்னா ஜோஹன்சன் ,ர்யாந்ஸ் போர்த்ென்பெற்ரி ,நிறமாலை பகுப்பாய்வு அமைப்பு ,பகுப்பாய்வு அமைப்பு ,அளவீட்டு நுட்பங்கள் ,மெல்லிய படம் குறுக்கீடு வடிப்பான்கள் ,வெள்ளை காகிதம் ,தட்டையானது மேல் ,ஒளியியல் வடிப்பான்கள் ,ஒளியியல் வடிகட்டி ,அல்ட்ரா குறுகிய ,

© 2025 Vimarsana

vimarsana.com © 2020. All Rights Reserved.