HELIX Spectral Analysis System - Measuring High-Performance

HELIX Spectral Analysis System - Measuring High-Performance Optical Filters


HELIX™ Spectral Analysis System accurately measures the highest-performance optical filters.
The HELIX Spectral Analysis System has redefined measurement capabilities of high performance thin-film optical filters. HELIX is an instrument designed and developed by Alluxa Engineering staff to address the limitations of most commercially available spectrophotometers. The system’s capabilities are four-fold: it is able to track filter edges to OD7 (-70 dB), evaluate blocking to OD9 (-90 dB), resolve edges as steep as 0.4% relative to edge wavelength from 90% transmission to OD7, and resolve passbands that are as narrow as 0.1 nm at full width half maximum (FWHM).
Figure 1. Transmission spectra of a high-cavity-count ultra-narrow bandpass filter measured with the HELIX System and compared to theory. The HELIX System is able to measure blocking up to a level of OD9 (-90 dB).

Related Keywords

Amber Czajkowski , Niels Cooper , Peter Egerton , Mike Scobey , Alannah Johansen , Alluxa Inc , , Rance Fortenberry , Spectral Analysis System , Analysis System , Alluxa Engineering , Measurement Techniques , Rear Beam Attenuation , Ultra Narrow Bandpass , Thin Film Interference Filters , White Paper , Flat Top , Alluxa White Paper , Alluxa , Optical Filters , Optical Filter , Ultra Narrow , Bandpass Optical Filters , Ultra Narrow Bandpass Optical Filters , நியீல்ஸ் கூப்பர் , பீட்டர் எகர்‌டந் , மைக் ஸ்கோபி , அலன்னா ஜோஹன்சன் , ர்யாந்ஸ் போர்த்ென்பெற்ரி , நிறமாலை பகுப்பாய்வு அமைப்பு , பகுப்பாய்வு அமைப்பு , அளவீட்டு நுட்பங்கள் , மெல்லிய படம் குறுக்கீடு வடிப்பான்கள் , வெள்ளை காகிதம் , தட்டையானது மேல் , ஒளியியல் வடிப்பான்கள் , ஒளியியல் வடிகட்டி , அல்ட்ரா குறுகிய ,

© 2025 Vimarsana