JEOL introduces new configuration of its broad ion beam mill

JEOL USA introduces a new configuration of its bestselling broad ion beam milling instrument, the Cross-section Polisher (CP). The CP is widely used for preparing pristine samples prior to high resolution imaging and elemental analysis with the Scanning Electron Microscope (SEM).  The upgraded configuration includes high-speed milling, sputter coating, cryo-preparation (down to LN 2 temperature) and air-isolated transfer for atmosphere sensitive specimens (for example Li batter

Related Keywords

United States , Natasha Erdman , Product News , Cross Section , Cross Section Polisher , Ion Beam Product Manager , Jeol Introduces New Configuration Of Its Broad Ion Beam Milling Cross Section Polisher Usa Scanning Electron Microscopy , Sample Preparation , ஒன்றுபட்டது மாநிலங்களில் , நடாஷா எர்ட்மான் , ப்ராடக்ட் செய்தி , குறுக்கு பிரிவு , குறுக்கு பிரிவு பாலிஶர் , அயன் உத்திரம் ப்ராடக்ட் மேலாளர் , மாதிரி ப்ரெபரேஶந் ,