Wenn das Äußerste zählt: Röntgen-Photoelektronen-Spektroskopie
Man soll ein Buch nicht nach seinem Umschlag beurteilen. In den Materialwissenschaften ist aber gerade die Oberfläche entscheidend für viele Eigenschaften. Für deren Analyse eignet sich die Röntgen-Photoelektronen-Spektroskopie (XPS), die die obersten zehn Nanometer eines Materials erfasst...
Fraunhofer Iap Institute Offers Xps As Technology For Investigations Development Of Vorbehandlungstechnologien Chemical Analysis Should Not
Source: laborpraxis.vogel.de